2017105961278：基于频移干涉技术的弱光纤光栅反射率的测量方法

专利名称	【2017105961278】基于频移干涉技术的弱光纤光栅反射率的测量方法					响应
生效日期	2024-04-02	许可期限	2024-12-31	专利权人	湖北工业大学
许可费方式	无偿	支付标准	免费许可
联系人	熊瑛	联系电话	027-59750139	电子邮件	chengguoban@hbut.edu.cn
地址邮编	湖北省武汉市洪山区南李路28号 430068
行业分类		技术领域
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