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专利许可
专利名称
【
2014100646786
】
一种用于微结构三维形变和位移测试的干涉测量系统
合同备案号
2018320000059
备案日期
2018-03-15
许可人
西安电子科技大学
许可类型
独占许可
被许可人
江苏汇成光电有限公司
浏览人次
18
备 注
【关 闭】
