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专利名称 2018112351721基于难测路径选择的集成电路检测方法和系统
合同备案号 X2022990000752 备案日期 2022-10-09 许可人 中国科学院计算技术研究所
许可类型 排他许可 被许可人 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
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