登录    注 册
专利名称 201510226906X赛贝克系数测量结构、测量结构制备方法及测量方法
合同备案号 X2025990000125 备案日期 2025-03-24 许可人 中国科学院微电子研究所
许可类型 普通许可 被许可人 北京艾捷科芯科技有限公司
浏览人次 2 备 注
【关 闭】