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2026-02-03
【2021103722851】基于工艺窗口的冗余局部环路插入方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2019107501174】一种厚膜氮化硅的区域挖槽制备方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2011101449781】阱区的形成方法和半导体基底 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2015103514815】半导体器件的制造方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2011100292129】半导体器件及其制造方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2013104733276】后栅工艺中伪栅器件及半导体器件的形成方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2013102866697】测量MOS器件侧墙厚度相关参数的结构和方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2014105689468】CMOS器件及其制造方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2013103091510】半导体器件制造方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2014104591547】一种FinFET器件结构及其制造方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2014104844076】CMOS器件及其制造方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2016100821498】具有多栅FinFET的半导体器件及其制造方法及电子设备 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2012101925231】半导体结构及其制造方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2012104848307】半导体器件制造方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【201110329077X】一种MOS器件及其制造方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2013106274068】半导体装置及其制造方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2012101295877】双金属栅极CMOS器件及其制造方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2010102410360】半导体器件结构及其制造方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2011100064298】半导体器件及其制造方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2009102354669】一种改善高介电常数栅介质界面特性的方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
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