首页
专利运营库
企业需求库
融资需求
开放许可
专利许可
专利许可库
专利许可备案
专利许可变更
专利许可注销
许可类型:
独占许可
排他许可
普通许可
分许可
开放许可
其他
许可人:
被许可人:
关键词:
2026-02-03
【2012100373192】曝光电子束正性抗蚀剂的方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
2026-02-03
【2015102543647】SOI器件及其制造方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
2026-02-03
【2011102543403】半导体器件及其制造方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
2026-02-03
【2013101607727】半导体器件及其制造方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
2026-02-03
【2009102445155】鳍式晶体管结构及其制作方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
2026-02-03
【2011101815877】一种半导体器件的替代栅集成方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
2026-02-03
【2012104510502】半导体器件及其制造方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
2026-02-03
【2012105053595】平坦化处理方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
2026-02-03
【2013107296115】一种半导体器件的制造方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
2026-02-03
【2010105424755】采用后栅工艺制备CMOS器件中接触孔的方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
2026-02-03
【2011100463601】PMOS器件叠层结构的制备和栅功函数调节方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
2026-02-03
【2010106228742】晶体管及其制造方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
2026-02-03
【2019106316725】一种半导体器件制备方法及制备得到的半导体器件 (许可人:中国科学院微电子研究所)
2026-02-03
【2013101256487】增强浅沟槽隔离应力的方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
2026-02-03
【2015102923330】一种半导体器件的制造方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
2026-02-03
【2021103722851】基于工艺窗口的冗余局部环路插入方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
2026-02-03
【2019103245130】孔型结构工艺质量的检测方法、检测装置、存储介质和处理器 (许可人:中国科学院微电子研究所)
2026-02-03
【2010102151652】一种半导体器件及其形成方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
2026-02-03
【2018112916549】半导体器件与其制作方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
2026-02-03
【2013100501250】半导体器件及其制造方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
首 页
上一页
44/23746(共474907条)
下一页
尾 页
跳转