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专利名称 2017111408499一种基于荧光强度的通道上/下壁面轮廓的测量方法
合同备案号 X2025980048577 备案日期 2026-01-08 许可人 北京工业大学
许可类型 开放许可 被许可人 河北雄安雄柘科技服务有限公司
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