202211669540X：基于面内光子自旋霍尔效应的偏振态调制型纳米级薄膜折射率测量方法及其应用

专利名称	【202211669540X】基于面内光子自旋霍尔效应的偏振态调制型纳米级薄膜折射率测量方法及其应用
合同备案号	X2025980044653	备案日期	2025-12-12	许可人	郑州轻工业大学
许可类型	普通许可	被许可人	河南省日立信股份有限公司
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