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专利许可
专利名称
【
2022104977778
】
晶圆扫描路径的优化方法、系统、设备及晶圆检测方法
合同备案号
X2025980039995
备案日期
2025-12-01
许可人
武汉精测电子集团股份有限公司
许可类型
普通许可
被许可人
苏州精濑光电有限公司
浏览人次
9
备 注
【关 闭】
