201711140854X：一种用于测量下游壁面可变形的微通道中压力变化的微流控芯片

专利名称	【201711140854X】一种用于测量下游壁面可变形的微通道中压力变化的微流控芯片
合同备案号	X2025980048588	备案日期	2026-01-08	许可人	北京工业大学
许可类型	开放许可	被许可人	河北雄安雄柘科技服务有限公司
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