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专利名称 2018103524755一种具有P型岛缓冲层结构的抗辐射MOSFET结构
合同备案号 X2025980050426 备案日期 2025-12-31 许可人 北京工业大学
许可类型 开放许可 被许可人 上海亿为科技有限公司
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