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专利许可
专利名称
【
2020108963099
】
高深宽比微结构反射式干涉显微无损测量装置
合同备案号
X2026980002039
备案日期
2026-01-29
许可人
南京理工大学
许可类型
普通许可
被许可人
南京智群光电技术有限公司
浏览人次
4
备 注
【关 闭】