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2026-02-03
【2014107084313】半导体器件及其制造方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
2026-02-03
【2012103951052】精细线条制备方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
2026-02-03
【2017102793590】一种电子显微图像线条宽度和粗糙度的测量方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
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【2013103150519】隧穿场效应晶体管及其制造方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
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【201310331347X】半导体设置及其制造方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
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【2011101783876】MOSFET及其制造方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
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【2016101537198】FinFET及其制造方法和包括其的电子设备 (许可人:中国科学院微电子研究所)
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【201310185048X】半导体器件制造方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
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【2019108695923】一种Ge基CMOS晶体管制备方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
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【2010105743572】半导体结构及其制造方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
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【2012100558273】围栅结构的鳍式半导体器件的制造方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
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【2012104478511】鳍结构及其制造方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
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【2011101652418】半导体器件及其制造方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
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【2012100674382】半导体器件制造方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
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【2011100205366】半导体器件及其制造方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
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【2010105411346】高K栅介质/金属栅叠层栅结构刻蚀后聚合物去除方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
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【200910249095X】晶体管及其制造方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
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【2015106123194】FinFET及其制造方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
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【2010101899929】一种半导体器件及其形成方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
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【2014103459601】一种锗的化学机械抛光方法 (许可人:中国科学院微电子研究所)
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