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2026-02-03
【2013100501142】半导体器件及其制造方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2016105650838】半导体器件及其制造方法及包括该器件的电子设备 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2015106244926】一种鳍及半导体器件的制造方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2012103936692】半导体器件制造方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2009102425096】半导体结构及其形成方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2012102607607】半导体器件及其制造方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【200910249095X】晶体管及其制造方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2014108272220】鳍式场效应晶体管、鳍结构及其制造方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2012100899634】使源/漏区更接近沟道区的MOS器件及其制作方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2010106017440】层间电介质层的平面化方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2014107901244】半导体器件及其制造方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2010105525898】沟槽隔离结构及其形成方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2011102541874】半导体器件及其制造方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2014104595783】一种U型FinFET或非门结构及其制造方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2019103245130】孔型结构工艺质量的检测方法、检测装置、存储介质和处理器 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2015104511227】半导体结构及其制造方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2012105101300】一种后栅工艺假栅的制造方法和后栅工艺假栅 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2009100878072】控制器件阈值电压的CMOSFETs结构及其制造方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【201310478631X】一种FinFET结构及其制造方法 （许可人：中国科学院微电子研究所）
2026-02-03
【2012105103522】一种后栅工艺假栅的制造方法和后栅工艺假栅 （许可人：中国科学院微电子研究所）
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